介電常數測試儀微波

介電常數測試儀 應用：高速數字/微波回路的各種材料；新材料；半導體材料；薄膜材料。 
【正確把握材料的電學(xué)性能，在新材料，以及新產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)得到zui大限度的利用】 
利用創(chuàng )新的開(kāi)發(fā)理念，實(shí)現了低成本開(kāi)發(fā)。 

計量技術(shù)的重大突破 
率的設備和系統應用在現代寬帶通信技術(shù)中成功發(fā)展的關(guān)鍵是了解材料的電學(xué)性質(zhì)。在過(guò)去，微波知識的掌握和昂貴設備的使用經(jīng)驗對傳統介質(zhì)的測量是必要的。而AET公司開(kāi)發(fā)的微波介電常數測定儀不需要昂貴的設備，它能夠快速無(wú)損的測量各種形狀的材料，包括薄膜電介質(zhì)材料，通過(guò)一個(gè)開(kāi)放型同軸共振器的消逝模式進(jìn)行測量。內置的反饋電路可以使得測量更準確，振蕩器的操作更簡(jiǎn)單。精度是通過(guò)結合高Q腔，高度的測量算法和三維電磁仿真軟件得到保證。

*MW STUDIO: 是CST GmbH提供的三維電磁場(chǎng)仿真軟件。

不用必須使用微波發(fā)生器 
AET的微波介電常數測試儀有兩種型號的，分別是合成掃描振蕩器型（可以代替微波發(fā)生器），和微波發(fā)生器型。合成掃描振蕩器型包括一個(gè)振蕩器（振蕩器中有一個(gè)微波信號發(fā)生裝置和一個(gè)檢測器），一個(gè)測量探測器，一套定制的軟件和一些附件。這款機器造價(jià)很低主要是由于他不用很昂貴的測量器件。另一種的微波發(fā)生型提供了微波發(fā)生裝置可供使用。它也包括一個(gè)測量探測器，一套定制的軟件和一些附件。 

快捷簡(jiǎn)便的測量： 
AET的微波介電常數測定儀zui大的優(yōu)勢是其使用簡(jiǎn)便，只需要簡(jiǎn)單的把樣品放置在測量探測器上即可完成測試。*的探測器的倏逝場(chǎng)可以很快，并且對許多形狀材料進(jìn)行無(wú)損測量。ε的隨機誤差小于1%，tanδ的隨機誤差小于5%。精度通過(guò)兩種不同參比材料的校準來(lái)確定。通過(guò)計算參比物質(zhì)和樣品材料的相對誤差，消除外部誤差源（如室溫，濕度，震動(dòng)等） 
*&理想的測量探測器 

AET的微波介電常數測定儀擁有一個(gè)*的測試探測器叫做“同軸共振器"。測量可以選擇五點(diǎn)同時(shí)測量模式或者單個(gè)頻率測量模式。一個(gè)樣品材料放置在探測器上，一個(gè)倏逝電場(chǎng)從探測儀頂端滲入到樣品材料中。這個(gè)電場(chǎng)隨著(zhù)材料的介電性質(zhì)而改變，依次改變共振頻率和整個(gè)腔體的Q值。而后介電性質(zhì)可以通過(guò)共振的變化被計算出來(lái)。高精度的測量計算程序來(lái)計算復雜的介電常數，利用電磁場(chǎng)分布和倏逝模式共振的特性，通過(guò)“3D EM-field"模擬器“MW studio"來(lái)計算。

介電常數計量服務(wù)： 
時(shí)至今日，介電特性的測量一直是基于微擾理論的近似計算。AET公司的介電常數計量服務(wù)是將一個(gè)高Q腔和3D電磁場(chǎng)模擬技術(shù)運用到測量介電特性的過(guò)程中。介電常數計量服務(wù)可以使我們地測量出樣品的相關(guān)介電特性值。 
我們根據樣品材料的大小以及形狀選擇的測量方法，而后提供了幾乎所有樣品材料的測量方法，包括固體，片材，薄膜樣品，多層電路板，顆粒以及液體。 

應用： 
基體材料的高速數字/微波電路；低損耗介質(zhì)用于過(guò)濾和介質(zhì)天線(xiàn)；薄膜材料和新材料；半導體材料；醫療電子；化學(xué)制品；食品（水分含量）；人體組織；氣體；液體。 

提供材料的信息，比如：質(zhì)量，大小和形狀，粗糙度 

技術(shù)參數：

（一） 同軸共振器型介電常數測定儀：（可以對所有形狀的樣品進(jìn)行測試）
1. 頻率：0.8~18GHz 
2. 頻率點(diǎn)：可以選擇五個(gè)離散的頻率點(diǎn)或者一個(gè)點(diǎn) 
3. 測量范圍：ε：1-15 tanδ：0.001~0.1 
4. 測量精度：ε：±1% tanδ：±5% 
5. 樣品形狀：形狀可以任意只要有平滑的表面即可（但是，平滑表面面積要在10mm×10mm以上，厚度在0.5mm以上）。

（二）共振腔型介電常數測定儀：（測定薄膜和多層印刷電路板）  
1. 頻率：1~18GHz 
2. 頻率點(diǎn)：每一次共振一個(gè)點(diǎn) 
3. 測量范圍：ε：1-30 tanδ：0.0001~0.1 
4. 測量精度：ε：±1% tanδ：±5% 
5. 樣品形狀：條狀、圓棒狀、方桿、薄膜

主要特點(diǎn)：

（一） 同軸共振器型介電常數測定儀：（可以對所有形狀的樣品進(jìn)行測試） 
特點(diǎn)： 
1. 一個(gè)開(kāi)放型同軸共振器用倏逝模式的波進(jìn)行測定：倏逝波 
一個(gè)樣品材料放在探測儀上，一個(gè)倏逝電場(chǎng)從探測儀頂端滲入到樣品材料中。這個(gè)電場(chǎng)隨著(zhù)材料的介電性質(zhì)而改變，依次改變共振頻率和整個(gè)腔體的Q值。而后介電性質(zhì)可以通過(guò)共振的變化被計算出來(lái)。 
2．簡(jiǎn)單、準確，無(wú)破壞性的測定： 
一個(gè)開(kāi)放型的共振器可以簡(jiǎn)單的進(jìn)行樣品放置，快捷準確的對其介電性質(zhì)進(jìn)行測量。 
3．穩定的測定： 
可以通過(guò)真空附件提供樣品與探測器的緊密連接。 
（二）共振腔型介電常數測定儀：（測定薄膜和多層印刷電路板） 
特點(diǎn)： 
1. 通過(guò)共振腔進(jìn)行測量 
把樣品添加入共振腔中，電場(chǎng)隨著(zhù)樣品材料的介電性質(zhì)而改變，依次改變共振頻率和整個(gè)腔體的Q值。而后介電性質(zhì)可以通過(guò)改變的共振被計算出來(lái)。 
2. 簡(jiǎn)單快捷的測量 
在樣品插入共振腔在很短的時(shí)間內，介電常數就可以測出來(lái)。

標簽：介電常數測試儀 介電常數介質(zhì)損耗測試儀 介質(zhì)損耗因數測試儀