橡膠介電常數測試儀

橡膠介電常數測試儀頻Q表能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設備有限公司Z研制的產(chǎn)品，它以DDS數字直接合成方式產(chǎn)生信號源，頻率達60MHz/160MHz，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩定的優(yōu)點(diǎn)，更保證了測量精度的精確性。A主電容調節用傳感器感應，電容讀數精確,且頻率值可設置。C主電容調節用步進(jìn)馬達控制，電容讀數更加精確,頻率值和電容值均可設置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示，在某一頻率下，只要能找到諧振點(diǎn)，都能直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感的測量范圍，而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測出電感值的大小。A/C*的諧振點(diǎn)頻率自動(dòng)搜索或電容自動(dòng)搜索功能，能幫助你在使用時(shí)快速地找到被測量器件的諧振點(diǎn)，自動(dòng)讀出Q值和其它參數。Q值量程可手動(dòng)或自動(dòng)轉換。

橡膠介電常數測試儀特點(diǎn)： 

◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

介電常數和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz～160MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。

同樣，由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化，通過(guò)公式計算得到介電常數。

 介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

 介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

介電體（又稱(chēng)電介質(zhì)）Z基本的物理性質(zhì)是它的介電性，對介電性的研究不但在電介質(zhì)材料的應用上具有重要意義，而且也是了解電介質(zhì)的分子結構和激化機理的重要分析手段之一，探索高介電常數的電介質(zhì)材料，對電子工業(yè)元器件的小型化有著(zhù)重要的意義。介電常數（又稱(chēng)電容率）是反映材料特性的重要參量，電介質(zhì)極化能力越強，其介電常數就越大。測量介電常數的方法很多，常用的有比較法，替代法，電橋法，諧振法，表法，直流測量法和微波測量法等。各種方法各有特點(diǎn)和適用范圍，因而要根據材料的性能，樣品的形狀和尺寸大小及所需測量的頻率范圍等選擇適當的測量方法。

介質(zhì)材料的介電常數一般采用相對介電常數來(lái)表示，通常采用測量樣品的電容量，經(jīng)過(guò)計算求出，它們滿(mǎn)足如下關(guān)系：

式中為∑介電常數，∑o為真空介電常數，， S為樣品的有效面積，d為樣品的厚度，C為被測樣品的電容量，通常取頻率為1Khz時(shí)的電容量C。

替代法

替代法電路圖如下所示，將待測電容Cx（圖中Rx是待測電容的介電損耗電阻），限流電阻Ro(取1KΩ)、安培計與信號源組成一簡(jiǎn)單串聯(lián)電路。合上開(kāi)關(guān)K1，調節信號源的頻率和電壓及限流電阻Ro，使安培計的讀數在毫安范圍恒定（并保持儀器Z高的有效位數），記錄讀數Ix。將開(kāi)關(guān)K2打到B點(diǎn)，讓標準電容箱Cs和交流電阻箱Rs替代Cx,調節Cs和Rs值，使Is接近Ix。多次變換開(kāi)關(guān)K2的位置(A.B 位)，反復調節Cx和Rx，使Is=Ix。假定Cx上的介電損耗電阻Rx與標準電容箱的介電損耗電阻Rs相接近（Rx=Rs），則有Cx=Cs。

使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量?jì)x器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。

1．測試注意事項

a．本儀器應水平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；

c．調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí)，當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調；

d．被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。

2．高頻線(xiàn)圈的Q值測量（基本測量法）

1、液體介電常數測定儀

2、低頻介電常數測試儀

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12、介電常數及介質(zhì)損耗測試儀