介電常數介質(zhì)損耗測試儀 介電常數測試儀

介電常數介質(zhì)損耗試驗儀：GDAT-A

滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法

介電常數介質(zhì)損耗試驗儀用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
二、技術(shù)指標
  1．Q值測量
   a．Q值測量范圍：2～1023。
   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
   c．標稱(chēng)誤差
項    目   GDAT-A
頻率范圍   20kHz～10MHz；
固有誤差   ≤5％±滿(mǎn)度值的2％；
工作誤差   ≤7％±滿(mǎn)度值的2％；
頻率范圍      10MHz～60MHz；
固有誤差   ≤6％±滿(mǎn)度值的2％；
工作誤差    ≤8％±滿(mǎn)度值的2％。
   2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
  
3．介電常數介質(zhì)損耗試驗儀電容測量：1~ 460
項    目       GDAT-A
直接測量范圍     1～460pF
主電容調節范圍
準確度  30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％

   注：大于直接測量范圍的電容測量見(jiàn)使用規則
   4．介電常數介質(zhì)損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項     目     GDAT-A
頻率范圍：10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz     

本儀器測試儀方法如下： 

儀器的測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應的影響。
a. 把配用的Q表主調諧電容置于較小電容量。
 

b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
 

c. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線(xiàn)圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿(mǎn)足要求），           如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
 

d. 短按ON/OFF按鍵，打開(kāi)液晶顯示屏。
 

e. 調節平板電容器測微桿，使平板電容器二極片相接為止，長(cháng)按SET按鍵將初始值設置為0。

4．介電常數Σ的測試

a. 再松開(kāi)二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時(shí)要用測微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，此時(shí)調節平板電容器，使Q 表再回到諧振點(diǎn)上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4

c. 計算被測樣品的介電常數：
                         Σ＝D2 / D4

5．介質(zhì)損耗系數的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個(gè)端上。把被測樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數記為C1。

c. 然后取下測試裝置，再改變Q 表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數記為C3，此時(shí)可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1

d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數公式如下：
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式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）C0 為測試電感的分布電容               （參考LKI-1 電感組的分布電容值）