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發(fā)布時(shí)間: 2023-10-26
產(chǎn)品型號: GDAT-A
廠(chǎng)商性質(zhì): 生產(chǎn)廠(chǎng)家
所 在 地: 北京市海淀區上地科技園上地十街1號
產(chǎn)品特點(diǎn): 介質(zhì)損耗測量?jì)x空洞共振腔適用于CCL/印刷線(xiàn)路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹(shù)脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹(shù)脂大約是3, 由于樹(shù)脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì )造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
介質(zhì)損耗測量?jì)x,介質(zhì)損耗試驗儀,介質(zhì)損耗測試儀
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