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發(fā)布時(shí)間: 2023-10-27
產(chǎn)品型號: GDAT-A
廠(chǎng)商性質(zhì): 生產(chǎn)廠(chǎng)家
所 在 地: 北京市海淀區上地科技園上地十街1號
產(chǎn)品特點(diǎn): 介電常數介質(zhì)損耗測試儀
介電常數介質(zhì)損耗測試儀
BDAT-B型高壓電容電橋
主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線(xiàn)路。
主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tg)和電容量( Cx)以,其測量線(xiàn)路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
電容率和介質(zhì)損耗因數測試儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感,保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ 數字化Q值預置,能提高批量測試的可靠性和速度。
GDAT-a
直接測量范圍
1~460pF
主電容調節范圍
準確度
30~500pF
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見(jiàn)使用規則
介電常數介質(zhì)損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項 目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz~50MHz
頻率分段
(虛擬)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
頻率指示誤差
3×10-5±1個(gè)字
Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
Q表正常工作條件
環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
相對濕度:<80%;
電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
其他
消耗功率:約25W;
凈重:約7kg;
外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
電容率和介質(zhì)損耗因數測試儀產(chǎn)品配置:
測試主機一臺;
電感9只;
夾具一套
電感:
線(xiàn)圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
介電常數介質(zhì)損耗測試儀術(shù)指標
Q值測量
Q值測量范圍:2~1023。
Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
BH916介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置與C類(lèi)Q表及電感器配用,能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量?jì)x器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀測試注意事項
a.本儀器應水平安放;
b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí),當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調;
d.被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。
2.高頻線(xiàn)圈的Q值測量(基本測量法)