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發(fā)布時(shí)間: 2023-10-27
產(chǎn)品型號: GDAT-A
廠(chǎng)商性質(zhì): 生產(chǎn)廠(chǎng)家
所 在 地: 北京市海淀區上地科技園上地十街1號
產(chǎn)品特點(diǎn): 介電常數介質(zhì)損耗測試儀電感器:按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。例如:在1MHz測試頻率時(shí),要配250µH電感器,在50MHz測試頻率時(shí),要配0.1µH電感器等。高頻介質(zhì)樣品(選購件):在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。
介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質(zhì)樣品組成,能對絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。 介電常數測試儀工作頻率范圍是20kHz~60MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。 系列中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數通過(guò)公式計算得到。
1 特點(diǎn):
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數測量范圍可達1~105
2 主要技術(shù)指標:
2.1 ε和D性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
2.1.3 ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數字電橋
工作頻率范圍 | 20kHz~60MHz 數字合成,精度:±0.02% |
電容測量范圍 | 0.00001pF~9.99999F 六位數顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.00001~9.99999 六位數顯 |
儀器滿(mǎn)足標準GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法。適用于測定熱塑性、熱固性塑料在1MHz條件下的電容率和介質(zhì)損耗因數。
GDAT的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無(wú)須關(guān)注量程和換算,*摒棄了傳統Q表依賴(lài)面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無(wú)疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。
介質(zhì)損耗測試系統主要性能參數
BH916測試裝置:
平板電容極片 Φ50mm
間距可調范圍≥15mm
夾具插頭間距25mm±0.01mm
測微桿分辨率0.001mm
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)
GDAT高頻Q表:
可選頻率范圍20KHz-60MHz
頻率指示誤差3×10-5±1個(gè)字
主電容調節范圍30-500
主調電容誤差<1%或1pF
Q測試范圍2~1023
介電常數介質(zhì)損耗測試儀電感器:
按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。
高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。
絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。
同樣,由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化,通過(guò)公式計算得到介電常數。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:1~1000三位數顯,±1Q分辨率
可調電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4