北京北廣精儀儀器設備有限公司
          品質(zhì)是生命,服務(wù)是宗旨

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          絕緣材料介電常數介質(zhì)損耗測試儀

          發(fā)布時(shí)間:  2023-10-28

          產(chǎn)品型號:  GDAT-A

          產(chǎn)品報價(jià):  

          廠(chǎng)商性質(zhì):  生產(chǎn)廠(chǎng)家

          所  在  地:  北京市海淀區上地科技園上地十街1號

          產(chǎn)品特點(diǎn):  絕緣材料介電常數介質(zhì)損耗測試儀:
          ◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
          ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
          ◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
          ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。

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          產(chǎn)品概述

          絕緣材料介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置:

          2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
          2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
          2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
          2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
          2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
          2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4


           介電常數介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn): 

          ◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

          ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

          ◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

          ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。

          ◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

          ◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

          ◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。



          絕緣材料介電常數介質(zhì)損耗測試儀使用方法

          高頻Q表是多用途的阻抗測量?jì)x器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。

          1.測試注意事項

          a.本儀器應水平安放;

          b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;

          c.調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí),當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調;

          d.被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差;

          e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

          f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。

          2.高頻線(xiàn)圈的Q值測量(基本測量法)


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