絕緣高頻介電常數測定儀

絕緣高頻介電常數測定儀工作特性

   1．Q值測量

  a．Q值測量范圍：2～1023；

  b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

c．標稱(chēng)誤差

頻率范圍 25kHz～10MHz

固有誤差 ≤5％±滿(mǎn)度值的2%

工作誤差≤7％±滿(mǎn)度值的2%

頻率范圍10MHz～60MHz

固有誤差≤6％±滿(mǎn)度值的2%

工作誤差≤8％±滿(mǎn)度值的2%

   2．電感測量范圍

14.5nH～8.14H

3．電容測量

直接測量范圍1～460p

主電容調節范圍40～500pF

準確度150pF以下±1.5pF；

150pF以上±1%

   注：大于直接測量范圍的電容測量見(jiàn)使用方法。

   4．信號源頻率覆蓋范圍

頻率范圍10kHz～60MHz

CH1   10～99.9999kHz

CH2    100～999.999kHz

CH3     1～9.99999MHz

CH4     10～60MHz

頻率指示誤差   3×10-5±1個(gè)字

  5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000

   6．Q表正常工作條件

   a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

  b．相對濕度：<80％；

  c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

   7．其他

  a．消耗功率：約25W；

   b．凈重：約7kg；

   c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。

絕緣高頻介電常數測定儀測試注意事項

a．本儀器應水平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；

c．調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí)，當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調；

d．被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差；

e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。

2．高頻線(xiàn)圈的Q值測量（基本測量法）

維修

1．新購儀器的檢查

新購的儀器能先用LKI-1電感組，將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測試Q值，把測試的情況，例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環(huán)境條件逐一詳細記錄，并把記錄保存起來(lái)，以供以后維修時(shí)作參考。

LKI-1電感組是測試時(shí)作輔助電感用的，不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著(zhù)測試環(huán)境條件不同，測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。

2．使用和保養

高頻Q表是比較精密的阻抗測量?jì)x器，在合理使用和注意保養情況下，才能保證長(cháng)期穩定和較高的測試精度。

a．熟悉本說(shuō)明書(shū)，正確地使用儀器；

b．使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥；

c．本儀器保用期為18個(gè)月，如發(fā)現機械故障或失去準確度，可以原封送回本廠(chǎng)，免費修理。

電感器：

按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測試頻率時(shí)，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

工作頻率范圍是10kHz～160MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。

同樣，由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化，通過(guò)公式計算得到介電常數。

主要技術(shù)指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

主要技術(shù)特性：介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。