四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀（北京供應商）

四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀（北京供應商）廣泛用于：

覆蓋膜;

導電高分子膜，

高、低溫電熱膜;

隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、

裝飾膜、裝飾紙;

金屬化標簽、合金類(lèi)箔膜;

熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;

電極涂料，

其他半導體材料、

薄膜材料方阻測試

硅晶塊、

晶片電阻率及擴散層、

外延層、

ITO導電箔膜、

導電橡膠等材料方塊電阻 

半導體材料/晶圓、

太陽(yáng)能電池、

電子元器件，

導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），

金屬膜，

導電漆膜，

蒸發(fā)鋁膜，

PCB銅箔膜，

EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 

導電性油漆，

導電性糊狀物，

導電性塑料，

導電性橡膠，

導電性薄膜，

金屬薄膜，

抗靜電材料，

EMI 防護材料，

導電性纖維，

導電性陶瓷等

四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀（北京供應商）適用標準：

按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）

國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、

GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針?lè )ā贰?/span>

GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?/span>

并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于：

生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，

是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

儀器特點(diǎn)：

配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。

液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程，無(wú)需人工多次和重復設置。

采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動(dòng)生成報表；

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購.

參數資料

1.方塊電阻范圍：10^-2～2×10³Ω/□

2.電阻率范圍：10^-3～2×10⁴Ω-cm

3.測試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線(xiàn)形探頭； 選購4.測試平臺

11.測試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針