高頻介質(zhì)損耗測試系統試驗機

高頻介質(zhì)損耗測試系統試驗機適用范圍：

能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。

它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007，美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數變化通過(guò)公式計算得到。

同樣，由平板電容器的刻度讀數變化，通過(guò)公式計算得到介電常數。

• 高頻介質(zhì)損耗測試系統試驗機概述

介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，

還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，

通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數（ε），

可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；

儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，

標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，

改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，

并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。

儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，

電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，

電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。

該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T5594.4-1985。

• 儀器的技術(shù)指標

1．Q值測量

a．Q值測量范圍：5～999。

b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔。

c．標稱(chēng)誤差

      頻率范圍：25kHz～10MHz；

      固有誤差：≤5％±滿(mǎn)度值的2％；工作誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2％；

      頻率范圍：10MHz～50MHz；

      固有誤差：≤7％±滿(mǎn)度值的2％；工作誤差：≤10％±滿(mǎn)度值的2％。

2．電感測量

a．測量范圍：0.1μH～1H。

b．分    檔：分七個(gè)量程。

      0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，

      0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。

3．電容測量

a．測量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測量見(jiàn)使用規則)；

b．電容量調節范圍

      主調電容器：40～500pF；

      準  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；

      微調電容量：－3pF～0～＋3pF；

      準  確  度：±0.2pF。

4．振蕩頻率

a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；

b．頻率分檔：

25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，

1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。

c．頻率誤差：2×10^-4±1個(gè)字。

5．Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。

6．儀器正常工作條件

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

b．相對濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。  

7．試樣尺寸

圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），Φ15~20mm（ε>30時(shí)）

8．其他

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

實(shí)驗步驟：

1．本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓是否合適，采用穩壓電源，以保證測試條件的穩定。

2．開(kāi)機預熱15分鐘，使儀器恢復正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測試。

3．按部件標準制備好的陶瓷試樣，兩面用燒滲法被上銀層，并分別焊上一根Φ0.8mm，30~40mm長(cháng)的金屬引線(xiàn)。引線(xiàn)材料為銅，表面鍍銀并浸錫。

4．選擇適當的輔助線(xiàn)圈插入電感接線(xiàn)柱。根據需要選擇振蕩器頻率，調節測試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C₁，品質(zhì)因素為Q₁。

5． 將被測樣品接在“C_X”接線(xiàn)柱上。

6．再調節測試電路電容器使電路諧振，這時(shí)電容為C₂，可以直接讀出Q₂，并且Q₂= Q₁－△Q，。

7．用游標卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d（分別在不同位置測得兩個(gè)數據，再取其平均值）。

8.方形式樣按其邊長(cháng)的4倍計算Φ值

實(shí)驗結果：

1．tanδ和ε測定記錄

實(shí)驗數據按表1要求填寫(xiě)。

表1                  tanδ和ε測定記錄表

2．計算

1）介電常數ε

式中：C---試樣的電容量（PF）, C= C₁－C₂；

d---試樣厚度（cm）；

Φ—試樣直徑（cm）。

2）介質(zhì)損耗角正切tanδ

3) Q值

注意事項

1．圓片形試樣的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，兩面燒滲銀層、浸錫及焊接引出線(xiàn)要符合技術(shù)條件。

2．電壓或頻率的劇烈波動(dòng)常使電橋不能達到良好的平衡，所以測定時(shí)，電壓和頻率要求穩定，電壓變動(dòng)不得大于1%，頻率變動(dòng)不得大于0.5%。

3．電極與試樣的接觸情況，對tanδ的測試結果有很大影響，因此燒滲銀層電極要求接觸良好、均勻，而厚度合適。

4．試樣吸濕后，測得的tanδ值增大，影響測量精度，應嚴格避免試樣吸潮。

5．在測量過(guò)程中，注意隨時(shí)檢查電橋本體屏蔽的情況，當電橋真正達到平衡，“本體-屏蔽”開(kāi)關(guān)置于任何一邊時(shí)，檢查計光帶均應zui小，而無(wú)大變化。